DIN V VDE V 0126-18-4-2-2007 太阳能硅片.第4-2部分:硅电气特性的测量程序.实验室测量法测定少数载流子寿命

作者:标准资料网 时间:2024-05-13 01:09:49  浏览:8329   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Solarwafers-Part4-2:Processformeasuringtheelectricalcharacteristicsofsilicon-Minoritycarrierlifetime,Laboratorymeasuringmethod
【原文标准名称】:太阳能硅片.第4-2部分:硅电气特性的测量程序.实验室测量法测定少数载流子寿命
【标准号】:DINVVDEV0126-18-4-2-2007
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:2007-06
【实施或试行日期】:2007-06-01
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电荷载体;结晶体;圆盘;电气工程;电性能;电子;实验室试验;寿命;测量;测量技术;测量方法;光电器件;性能;半导体材料;半导体工艺;半导体;硅;硅片;太阳能电池;太阳能工艺
【英文主题词】:Chargecarriers;Crystalline;Disks;Electricalengineering;Electricalproperties;Electrons;Laboratorytests;Life(durability);Measurement;Measuringtechniques;Methodsformeasuring;Photovoltaics;Properties;Semiconductormaterials;Semiconductortechnology;Semiconductors;Silicon;Siliconslices;Solarcells;Solartechnics;Wafers
【摘要】:
【中国标准分类号】:F12
【国际标准分类号】:27_160
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:德语