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JIS C5722-1991 电子设备用金属膜固定电阻器.形状05、等级B

作者:标准资料网 时间:2024-05-16 05:49:04  浏览:9830   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Fixedmetalfilmresistorsforuseinelectronicequipment--form05,gradeB
【原文标准名称】:电子设备用金属膜固定电阻器.形状05、等级B
【标准号】:JISC5722-1991
【标准状态】:作废
【国别】:日本
【发布日期】:1991-02-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;金属覆层;固定电阻器
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L13
【国际标准分类号】:31_040_10
【页数】:38P;A4
【正文语种】:日语


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基本信息
标准名称:地理标志产品 陈山红心杉
发布部门:江西省质量技术监督局
发布日期:2009-02-25
实施日期:2009-04-01
首发日期:
作废日期:
出版社:中国标准出版社
出版日期:2009-04-01
适用范围

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前言

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目录

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引用标准

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所属分类: 综合 经济 文化 商业 贸易 合同 社会学 服务 公司(企业)的组织和管理 行政 运输 服务 消费者服务
【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part1:General(IEC60749-1:2002+Corr.1:2003);GermanversionEN60749-1:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第1部分:总则
【标准号】:EN60749-1-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:2003-12-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境条件;半导体;外观检查(试验);集成电路;半导体器件;温度变化;气候试验;电子工程;电气工程;温度;试验;环境试验;机械试验;潮气;耐力;电学测量;电子设备及元件;尺寸;元部件;气候;特性;大气压;环境;易燃性
【英文主题词】:Atmosphericpressure;Changesoftemperature;Climate;Climatictests;Components;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environment;Environmentalcondition;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Moisture;Properties;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Temperature;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P.;A4
【正文语种】:英语



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